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金属覆盖层厚度测量X射线光谱国标
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常规的X射线测厚仪比如德国菲希尔的FISCHERSCOPE X-RAY XULM是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪,它结构紧凑,小巧耐用。它们十分适用于无损测量细小零部件上的镀层厚度和成分分析。为了使每次测量都能在zui优的条件下进行,XULM配备了可电动调整的多种准直器及基本滤片。 比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer基本参数法,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。可测量的元素范围从氯(17)到铀(92)。

XULMX射线光谱仪有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。

本款仪器特别适合用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

典型的应用领域有:

微小零部件、接插件和线材上镀层厚度的测量

印制线路板上手动测量

珠宝手表业中的镀层厚度测量及成分分析 

设计理念

FISCHERSCOPE X-RAY XULM设计为界面友好、结构紧凑的台式测量仪器系列。根据使用用途,有以下两种不同版本型号,分别对应不同样品平台:

XULM 固定平面平台

XULM XYm 手动X/Y平台

高分辨的彩色摄像头配以强大的放大功能,可以定位测量位置。

尽管仪器本身结构紧凑,但是由于XULM光谱仪配备了宽敞的测量室,从而可以测量更大体积的样品。

外罩底部留下了空隙,可方便地测量超出测量室大小的大尺寸扁平样品,如大面积的印制线路板等。

通过强大且界面友好的WinFTM®软件,可以在电脑上便捷地完成整个测量过程,包括测量结果的数据分析和所有相关信息的显示等。

XULM型光谱仪是型式许可符合德国”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的,有完善防护措施的测量仪器。

 
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